Pat
J-GLOBAL ID：200903026711136660

異常陰影検出装置

Inventor：
武尾 英哉

About 武尾 英哉

, 
今村 貴志

About 今村 貴志


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001178151
Publication number (International publication number)：2002360552
Application date： Jun. 13, 2001
Publication date： Dec. 17, 2002
Summary：
【要約】【課題】 淡い石灰化を含む石灰化候補画像に基づいて微小石灰化陰影の存在領域を検出する際に、ノイズ等の非石灰化陰影の影響による検出精度の低下を軽減させる。【解決手段】 候補点抽出手段10が、画像読取装置等から入力した原画像データPに基づいて原画像中の微小石灰化候補点を抽出し、クラスタ領域設定手段20が、候補点抽出手段10により抽出された各微小石灰化候補点を中心とする所定の大きさの円領域を設定し、各円領域に含まれる候補点の数をカウントしてカウント値を算出し、各円領域に含まれる微小石灰化候補点の大きさのばらつきと濃度のばらつきに基づいてカウント値を補正し、補正された後のカウント値が5以上となる円領域を検出領域として抽出し、この検出領域が1つ以上連続することにより形成される連続領域をクラスタ領域として設定する。
Claim (excerpt)：
被写体の放射線画像を表わす画像データに基づいて、該放射線画像中の微小石灰化候補点を抽出する候補点抽出手段と、該抽出された微小石灰化候補点をクラスタ化してクラスタ領域を設定するクラスタ領域設定手段とを備えた異常陰影検出装置において、前記クラスタ領域設定手段が、前記放射線画像中に複数の領域を設定し、該設定された複数の領域それぞれに含まれる前記微小石灰化候補点の大きさのばらつきおよび/または濃度のばらつきを該領域ごとに求め、該求められた大きさのばらつきおよび/または濃度のばらつきに基づいて前記複数の領域の中から検出領域を抽出し、該抽出された検出領域が連続して存在する連続領域を前記クラスタ領域として設定するものであることを特徴とする異常陰影検出装置。
IPC (4)：
A61B 6/00 ,  G03B 42/02 ,  G06T 1/00 290 ,  H04N 7/18
FI (4)：
G03B 42/02 B ,  G06T 1/00 290 A ,  H04N 7/18 L ,  A61B 6/00 350 D
F-Term (29)：
2H013AC06 ,  4C093AA01 ,  4C093AA16 ,  4C093DA06 ,  4C093FD05 ,  4C093FD09 ,  4C093FF16 ,  4C093FF17 ,  4C093FF19 ,  4C093FF28 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DA12 ,  5B057DA13 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36 ,  5C054AA04 ,  5C054CA02 ,  5C054FC04 ,  5C054FC12 ,  5C054FC15 ,  5C054FC16 ,  5C054HA12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM