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J-GLOBAL ID:200903026745236051

蛍光相関法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西澤 利夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000085368
Publication number (International publication number):2001272346
Application date: Mar. 24, 2000
Publication date: Oct. 05, 2001
Summary:
【要約】【課題】 パルス光源を用いた場合においても蛍光現象のみによる蛍光相関関数を的確に計測することのできる、新しい蛍光相関法を提供する。【手段手段】 パルス励起光を試料上に集光しながら、試料に対してパルス励起光を相対的に位置操作して各操作位置における蛍光相関関数を測定する場合において、蛍光発光が存在しない計測時間帯の信号成分を蛍光相関関数から除いて演算する。
Claim (excerpt):
パルス励起光を試料上に集光しながら、試料に対してパルス励起光を相対的に位置操作して各操作位置における蛍光相関関数を測定する場合において、蛍光発光が存在しない計測時間帯の信号成分を蛍光相関関数から除いて演算することを特徴とする蛍光相関法。
IPC (2):
G01N 21/64 ,  G01N 21/65
FI (3):
G01N 21/64 Z ,  G01N 21/64 E ,  G01N 21/65
F-Term (21):
2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA02 ,  2G043GB01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA04 ,  2G043NA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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