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J-GLOBAL ID：200903026831042901

測距装置

Inventor： 稲葉 直人 ,  長沢 昌弥
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 大西 正悟
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001325985
Publication number (International publication number)：2003130953
Application date： Oct. 24, 2001
Publication date： May. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】 測定光を用いた測距装置において、遠距離計測による反射光の弱まり等の影響を受けにくくし、精度のよい測距装置を提供する【解決手段】 本発明によれば、距離に応じて測定光出射器の出射強度を増加させたり、反射光受光器の受光感度を増加させて受光のカウント数を増加させることができるので、被測定物が近くにあっても、遠くにあっても被測定物からの反射光とランダムにやってくるノイズ光とを明確に分離できるので精度のよい測距装置を提供することができる。

Claim (excerpt)：

パルス状の測定光を被測定物に向かって出射する測定光出射器と、前記被測定物から反射されてくる反射光を受光する反射光受光器と、前記測定光出射器から出射される前記測定光の出射強度および前記反射光受光器の受光感度の少なくとも一方を制御するコントローラと、前記測定光が出射されたときから前記反射光が受光されるまでの経過時間に基づいて前記被測定物までの距離を求める距離算出器とを備え、前記コントローラは、前記被測定物までの概略の距離に応じて前記出射強度および前記受光感度の少なくとも一方を変化させることを特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G01S 17/10 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/40

FI (4)：

G01S 17/10 ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 H ,  G02B 7/11 F

F-Term (15)：

2H051BB27 ,  2H051CC03 ,  2H051CC10 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB01 ,  5J084BB04 ,  5J084CA03 ,  5J084CA23 ,  5J084CA32 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084EA01