Pat

J-GLOBAL ID：200903027000471764

高分子ポリマーの分子量分布の測定方法

Inventor： 長 沢 光 雄 ,  徳 田 俊 夫
Applicant, Patent owner： 昭和電工株式会社
Agent (1)： 鈴木 俊一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993069875
Publication number (International publication number)：1994317575
Application date： Mar. 29, 1993
Publication date： Nov. 15, 1994
Summary：

【要約】【構成】 分子内に解離基を有する高分子ポリマーの分子量分布をポリスチレン系GPCカラムにより行うに際して、溶離液として、(i)塩類、および(ii)塩基性化合物または酸性化合物が添加されたN-アルキルピロリドン溶液あるいはこのN-アルキルピロリドン溶液と疎水性有機溶媒との混合溶媒を用いることを特徴とする、分子内に解離基を有する高分子ポリマーの分子量分布の測定方法。【効果】 高分子ポリマーがGPCカラムに疎水吸着やイオン吸着させることが防止され、正確な分子量分布の測定が可能になる。

Claim (excerpt)：

分子内に解離基を有する高分子ポリマーの分子量分布をポリスチレン系GPCカラムにより行うに際して、溶離液として、(i)塩類、および(ii)塩基性化合物または酸性化合物が添加されたN-アルキルピロリドン溶液を用いることを特徴とする、分子内に解離基を有する高分子ポリマーの分子量分布の測定方法。

IPC (2)：

G01N 30/88 ,  G01N 30/26