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J-GLOBAL ID：200903027014809334

自動分析装置

Inventor： 若竹 孝一
Applicant, Patent owner： 株式会社ニッテク
Agent (1)： 山口 哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992203204
Publication number (International publication number)：1994027118
Application date： Jul. 08, 1992
Publication date： Feb. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 検査依頼された検査項目のみでは正常・異常を判別できない場合であっても、関連項目のデータ値を参考にしてより正確な判断を行う。【構成】 検査依頼された検査項目に関連する検査を、検査依頼がなくとも自動的に分析する機能を備えた自動分析装置。

Claim (excerpt)：

検査依頼された検査項目に関連する検査を、検査依頼がなくとも自動的に分析する機能を備えた自動分析装置。

IPC (2)：

G01N 35/00 ,  G01N 21/78