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J-GLOBAL ID：200903027067653506

粒径分布測定装置および粒径分布測定方法

Inventor： 山口 哲司 ,  伊串 達夫
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999256436
Publication number (International publication number)：2001083074
Application date： Sep. 10, 1999
Publication date： Mar. 30, 2001
Summary：

【要約】【課題】 粒径分布の演算に不可欠な測定時の温度データを直接的に正確に測定する場合と、測定の簡便のためにホルダの温度など間接的に測定された温度を代用する場合とを切り換えて、その温度データを粒径分布の演算に用いることができる粒径分布測定装置および粒径分布測定方法を提供する。【解決手段】 測定対象試料3,4にレーザ光6を照射して、生じる散乱光を電気的な検出信号に変換し、この検出信号を逆演算して試料に含まれる粒子4の粒径分布F(D)を算出する粒径分布測定装置1において、測定対象試料3,4の温度Tを測定するために測定対象試料3,4を保持するホルダ2bに取り付けられて間接的にその温度を測定する外部温度センサ15bと、直接的に測定対象試料3,4の温度を測定する内部温度センサ15aとを有し、測定対象試料3,4に応じて使用する温度センサを選択可能とし、選ばれた温度センサによって測定された測定対象試料3,4の温度Tをストークスアインスタインの式に代入して応答関数を求めることにより粒径分布F(D)の逆演算を行なう演算処理部17を有する。

Claim (excerpt)：

測定対象試料にレーザ光を照射して、生じる散乱光を電気的な検出信号に変換し、この検出信号を逆演算して試料に含まれる粒子の粒径分布を算出する粒径分布測定装置において、測定対象試料の温度を測定するために測定対象試料を保持するホルダに取り付けられて間接的にその温度を測定する外部温度センサと、直接的に測定対象試料の温度を測定する内部温度センサとを有し、測定対象試料に応じて使用する温度センサを選択可能とし、選ばれた温度センサによって測定された測定対象試料の温度をストークスアインスタインの式に代入して応答関数を求めることにより粒径分布の逆演算を行なう演算処理部を有することを特徴とする粒径分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-170844
  
• 移動する懸濁液の状態を記録する方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-003406   Applicant：フラッダ,ゲルト,ハインリッヒ