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J-GLOBAL ID：200903027070947413
超音波透過検査装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992024589
Publication number (International publication number)：1993184569
Application date： Jan. 13, 1992
Publication date： Jul. 27, 1993
Summary：
【要約】【目的】 整合液と被検体との間の超音波整合を常に最良にしておく(被検体表面における超音波反射をできるだけ少なくする)。【構成】 超音波トランスデューサ22から被検体(踵)27に向けて超音波を発射し、整合液26と被検体27との境界で反射して戻ってくる超音波の強度が最大となるように、整合液26の温度や組成を変化させる。
Claim (excerpt)：
被検体を通過する超音波の速度、減衰量等を測定することにより被検体の特性を検査する超音波透過検査装置において、a)内部に被検体及び被検体表面における超音波の反射を減少させるための整合液を入れる測定槽と、b)測定槽の内壁の、被検体に対して同じ側に設けた超音波発生器及び超音波検出器と、c)整合液の整合度を変化させる整合度変更手段と、d)超音波発生器の発生する超音波の強度に対して超音波検出器の検出する超音波の強度が最大となるように、整合度変更手段を制御する整合度調節手段とを備えることを特徴とする超音波透過検査装置。
IPC (3)：
A61B 8/00
, A61B 10/00
, G01N 29/28
