光学測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993214199
Publication number (International publication number)：1995063855
Application date： Aug. 30, 1993
Publication date： Mar. 10, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】簡易かつ高精度の光学式距離計または群屈折率計を提供する。【構成】 LD110からのレーザー光は、ファイバー131を通って反射体に照射される。受光部200は、物体で反射されて戻ってきた反射変調光を検出し、レーザー光と変調信号との位相差を反映した信号を出力する。この信号値に基づいて変調信号の周波数が変化し、最終的にフェーズロックされる。したがって、フェーズロックされて変調信号の周波数が固定された場合、この周波数は、常にLD110から反射体までの距離および光路を満たす物質の群屈折率に対応したものとなっている。よって、フェーズロックした時点での出力周波数に基づいてこの時の物体までの距離または光路を満たす物質の群屈折率を簡易かつ高精度で求めることができる。

Claim (excerpt)：

光搬送波を強度変調した変調光を目標物体に照射する送光部と、前記目標物体で反射されて戻ってきた反射変調光と前記光搬送波を強度変調する変調信号の波形を反映した電圧信号とを入力し、前記反射変調光と前記電圧信号との積を直接演算し、該演算結果を時間平均して、前記反射変調光と前記電圧信号との位相差の値に応じた信号を出力する受光部と、前記受光部の出力信号が基準値に固定される条件を保つように、前記変調光の周波数を調節する周波数調節手段と、前記周波数調節手段によって調節された結果、固定された変調周波数を計測する周波数計測手段と、前記周波数計測手段によって計測された周波数に基づいて前記送光部及び受光部側から目標物体までの距離を求める処理手段と、を備えることを特徴とする光学測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

特開昭58-066881
特開平2-024590
特開平2-288416

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