Pat

J-GLOBAL ID：200903027172171606

回路基板試験装置

Inventor： 小川 武男
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991178598
Publication number (International publication number)：1993029407
Application date： Jul. 19, 1991
Publication date： Feb. 05, 1993
Summary：

【要約】【目的】 回路基板試験装置に関し、試験ヘッドと測定回路部間の信号線をなくして装置としての試験性能向上と小型化による生産性の向上を目的とする。【構成】 測定回路部15とプローブヘッド31を少なくとも具えて構成される回路基板試験装置の該プローブヘッド31を、複数のプローブピン33とヘッド筐体32および該筐体32の長手方向両側面に形成されている複数のヒンジ部36a で該筐体32の幅方向に開閉し得るカバー36とで構成し、スイッチングボード22を位置決めし得る上記筐体32にはその幅方向中心線上に形成されている溝32a で位置決めされたボード22の両面に形成されている接続電極22a と接続する接触片35-1, 35-2を具えたソケット34が前記ピッチの偶数列マトリックス状に配設され、該筐体32に装着されている上記カバー36にはそれを閉じたときに上記ボード22の両面と面接触する領域に該スイッチングボード22への固定手段36c を設けて構成する。

Claim (excerpt)：

複数の導体パターンが一定したピッチのマトリックスポイントを基点または通過点として形成されている回路基板の該導体パターンにスプリングプローブピンを当接せしめて該導体パターンを試験する回路基板試験装置であって、制御部と1個または複数個のスイッチングボードとが一体化した測定回路部(15)と、回路基板に当接させるスプリングプローブピン(33)が前記ピッチのマトリックス状に配置されているプローブヘッド(31)とを少なくとも具えて構成される前記回路基板試験装置の該プローブヘッド(31)が、複数のスプリングプローブピン(33)とヘッド筐体(32)および、該ヘッド筐体(32)の長手方向両側面に該長手方向を軸として形成されている複数のヒンジ部(36a) で該ヘッド筐体(32)の幅方向に開閉し得る該ヘッド筐体(32)の長さをカバーする長さのカバー(36)とで構成され、複数のスイッチング素子(13a) が実装されている上記スイッチングボード(22)をその端辺で跨ぐ位置決め用の溝(32a) を具えた樹脂成形品からなる上記ヘッド筐体(32)には、その幅方向中心線上に沿って形成されている該溝(32a) で位置決めされた該スイッチングボード(22)の両面所定位置に各スイッチング素子(13a)に繋がって形成されている接続電極(22a) と接続する接触片 (35-1, 35-2) を具えたプローブピンソケット(34)が、該ヘッド筐体(32)の長手方向両側面からは前記ピッチの1/2ピッチを保つ位置を端列とした前記ピッチの偶数列マトリックス状に配設され、該ヘッド筐体(32)の長手方向両側面に装着されている上記カバー(36)には、該カバー(36)を閉じたときに上記ヘッド筐体(32)の溝(32a) で位置決めされたスイッチングボード(22)の両面と面接触する該カバー(36)の先端面(36b) 領域に該スイッチングボード(22)に固定し得る手段(36c) が設けられて形成されていることを特徴とした回路基板試験装置。

IPC (3)：

H01L 21/66 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/26