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J-GLOBAL ID：200903027191170025

集積回路の故障検証方法

Inventor： 吉田 貴輝
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 宮井 暎夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998067187
Publication number (International publication number)：1999265980
Application date： Mar. 17, 1998
Publication date： Sep. 28, 1999
Summary：

【要約】【課題】無駄な処理時間を省き、効果的に故障検証を行うことができる集積回路の故障検証方法を提供する。【解決手段】回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づく順番に検証を行う。分散故障検証では、信号遷移の割合が並列する各処理において均等になるように対象故障を分割、最終的に全体の故障検出率を算出する。また故障検出を行なう前に検証時に発生するイベイトを発生しやすいハイパー故障を考慮する。

Claim (excerpt)：

回路の検証対象箇所に対する信号の遷移確認検証を行い、信号遷移の割合に応じて検証テストパターンもしくは検証対象箇所を順位付けし、順位づけに基づく順番に検証を行うことを特徴とする集積回路の故障検証方法。

IPC (4)：

H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  G01R 31/317 ,  G06F 11/22 310

FI (3)：

H01L 27/04 T ,  G06F 11/22 310 B ,  G01R 31/28 A