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J-GLOBAL ID：200903027208007492

光ピックアップ装置及び対物レンズ

Inventor：
斉藤 真一郎

About 斉藤 真一郎

, 
坂本 勝也

About 坂本 勝也


Applicant, Patent owner：
コニカ株式会社

About コニカ株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000302749
Publication number (International publication number)：2002109775
Application date： Oct. 02, 2000
Publication date： Apr. 12, 2002
Summary：
【要約】【課題】光ピックアップ装置の雰囲気温度が変化してレーザー発振波長変動及び対物レンズ材料屈折率変動が変化した場合に対しても、あるいは、単純にレーザー発振波長がシフトした場合に対しても球面収差劣化のバランスが取れた、即ち誤差要因に対して強い対物レンズ、及びその対物レンズを備えた光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】CDに対して情報の記録又は再生を行うときには、行きの光学系において、対物レンズ8の回折部8aにおいて有効径内のある位置hで段差量が7μm以上40μm以下の球面収差の不連続部分以内の領域を通る光束は、回折限界以下に収差補正され、なお且つCDに対して情報の記録又は再生を行うときに、絞り最外部を通過する光線の球面収差量が7μm以上40μm以下であるので、同一の対物レンズ8を用いて、DVDとCDに対して情報の記録及び/又は再生を行う場合に、回折部8aの不連続構成によってフレアー量を適切に調整でき、特に温度特性を良好に確保できる。
Claim (excerpt)：
透明基板の厚さがt<SB>1</SB>である第1光情報記録媒体に対して光束を照射して情報を記録及び/又は再生する波長λ<SB>1</SB>の第1光源と、透明基板の厚さがt<SB>2</SB>(t<SB>1</SB><t<SB>2</SB>)である第2光情報記録媒体に対して光束を照射して情報を記録及び/又は再生する波長λ<SB>2</SB>(λ<SB>1</SB><λ<SB>2</SB>)である第2光源と、前記第1及び前記第2光源から出射された光束を、前記第1及び前記第2光情報記録媒体の透明基板を介して情報記録面に集光させる単一のプラスチック材料から形成される対物レンズを含む集光光学系と、前記第1及び前記第2光情報記録媒体共通の開口大きさである絞りとを有し、各光情報記録媒体に対して情報の記録及び/又は再生を行う光ピックアップ装置において、前記対物レンズの少なくとも1面には、同心円状の回折面が有効径内に設けられると共に、回折ピッチが光軸から周辺に向かって徐々に小さくなるが、ある位置hで回折の母非球面が連続で且つ回折ピッチが増加する回折部が存在し、前記第1光情報記録媒体に対して情報の記録又は再生を行うときには、前記回折部を通過した光束は、前記有効径内で回折限界以下に収差補正され、前記第2光情報記録媒体に対して情報の記録又は再生を行うときには、行きの光学系において、前記回折部において前記有効径内のある位置hで段差量が7μm以上40μm以下の球面収差の不連続部分以内の領域を通る光束は、回折限界以下に収差補正され、なお且つ前記第2光情報記録媒体に対して情報の記録又は再生を行うときに、前記絞り最外部を通過する光線の球面収差量が7μm以上40μm以下であることを特徴とする光ピックアップ装置。
IPC (4)：
G11B 7/135 ,  G02B 5/18 ,  G02B 13/00 ,  G02B 13/18
FI (4)：
G11B 7/135 A ,  G02B 5/18 ,  G02B 13/00 ,  G02B 13/18
F-Term (25)：
2H049AA04 ,  2H049AA18 ,  2H049AA57 ,  2H049AA65 ,  2H087KA13 ,  2H087NA08 ,  2H087NA14 ,  2H087PA01 ,  2H087PB01 ,  2H087QA02 ,  2H087QA07 ,  2H087QA14 ,  2H087QA34 ,  2H087RA01 ,  2H087RA05 ,  2H087RA42 ,  2H087RA46 ,  5D119AA41 ,  5D119BA01 ,  5D119EC03 ,  5D119FA05 ,  5D119FA08 ,  5D119JA44 ,  5D119JA47 ,  5D119LB08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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