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J-GLOBAL ID：200903027242505647

質量分析装置

Inventor： 河藤 栄三
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 竹本 松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997045341
Publication number (International publication number)：1998241624
Application date： Feb. 28, 1997
Publication date： Sep. 11, 1998
Summary：

【要約】【課題】 イオントラップ質量分析装置において、エンドキャップ電極に設けられた開口近傍の電場の局所的な変化を有効に補正することによって、分解能やイオン蓄積に関する性能を向上させる。【解決手段】 イオントラップ質量分析装置のエンドキャップ電極の開口の周辺部分の形状を、局所的あるいはエンドキャップ電極全体にわたって膨出させることによって、開口近傍での局所的な電場の「ずれ」を補正し、質量分析装置の分解能やイオン蓄積に関わる諸性能を向上させる。エンドキャップ電極は、開口の周辺部分の電極表面を膨出させた形状とするものであり、該エンドキャップ電極における膨出形状は、開口部の周辺部分を局所的に隆起あるいは突起させた形状によって形成エンドキャップ電極の開口の周辺部分を、局所的に膨らませることにより、開口近傍での局所的な電場のずれを補正し、広い範囲にわたって良好な四重極電場を形成する。

Claim (excerpt)：

エンドキャップ電極とリング電極を有するイオントラップを備えた質量分析装置において、前記エンドキャップ電極は、開口の周辺部分の電極表面を膨出させたことを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/36

FI (3)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 L ,  H01J 49/36