Pat
J-GLOBAL ID：200903027288494720
偏光及び複屈折測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991264261
Publication number (International publication number)：1993018856
Application date： Jul. 11, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：
【要約】【目的】 レンズの偏光状態を測定するのに適した偏光および複屈折測定装置を提供することを目的とする。【構成】 被検レンズ20とほぼ同一の屈折率をもち旋光性のないマッチング液63が注入された液槽60に被検レンズ20を浸して所定の広がりを持つ偏光光束を入射させ、被検レンズ20を透過した光束を2次元のCCDイメージセンサ40により取り込み、被検レンズ20とCCDイメージセンサ40との間に設けられた検光子30を透過光量を変化させるために回転させ、CCDイメージセンサ40により取り込んだ光量を画素毎に解析することにより偏光状態、複屈折を測定することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
被検レンズとほぼ同一の屈折率をもち旋光性のない液体が注入された液槽と、該液槽に浸された前記被検レンズに所定の広がリを持つ偏光光束を入射させる光源と、2次元に配列した画素を有し、前記被検レンズを透過した光束を取り込む受光手段と、前記被検レンズと前記受光手段との間に設けられ、透過光量を変化させるために回転される検光子と、前記受光手段により取り込んだ情報を解析することにより偏光状態、複屈折を測定する解析手段とを有することを特徴とする偏光及び複屈折測定装置。
IPC (3)：
G01M 11/00
, G01M 11/02
, G01N 21/23
