Pat
J-GLOBAL ID:200903027377701780

授業評価システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 鈴木 正次 ,  涌井 謙一 ,  山本 典弘 ,  鈴木 一永
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004170715
Publication number (International publication number):2005352620
Application date: Jun. 09, 2004
Publication date: Dec. 22, 2005
Summary:
【課題】 教育機関において授業を評価するシステム、特に、授業内容・質の改善・向上、これに伴う前記教育機関の運営・経営の改善・向上に資することを可能ならしめる信頼性高い授業評価を提供する授業評価システムを提案する。【解決手段】 授業を受ける複数の学生・生徒から得たアンケート質問事項に対する回答を多変量解析し、当該解析の結果に基づき、前記複数の学生・生徒を少なくとも3つのグループに区分けする第一の判定処理部と、前記第一の判定処理部で少なくとも3つのグループに区分けされた各グループに属している前記複数の学生・生徒の前記アンケート質問事項に対する回答と、前記少なくとも3つのグループの各グループとの関係を解析する第二の判定処理部とを備えている授業評価システム。【選択図】 図10
Claim (excerpt):
授業を受ける複数の学生・生徒から得たアンケート質問事項に対する回答を多変量解析し、当該解析の結果に基づき、前記複数の学生・生徒を少なくとも3つのグループに区分けする第一の判定処理部と、 前記第一の判定処理部で少なくとも3つのグループに区分けされた各グループに属している前記複数の学生・生徒の前記アンケート質問事項に対する回答と、前記少なくとも3つのグループの各グループとの関係を解析する第二の判定処理部と を備えている授業評価システム。
IPC (3):
G06F17/60 ,  G09B5/02 ,  G09B5/14
FI (3):
G06F17/60 128 ,  G09B5/02 ,  G09B5/14
F-Term (10):
2C028AA00 ,  2C028BA01 ,  2C028BB04 ,  2C028BC02 ,  2C028BC04 ,  2C028BC05 ,  2C028BD02 ,  2C028CA13 ,  2C028DA06 ,  2C028DA07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)

Return to Previous Page