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J-GLOBAL ID：200903027559486451

神経回路再生機能の解析装置、解析方法およびスクリーニング方法

Inventor：
細川 千絵

About 細川 千絵

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工藤 卓

About 工藤 卓

, 
田口 隆久

About 田口 隆久


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007298764
Publication number (International publication number)：2009118817
Application date： Nov. 19, 2007
Publication date： Jun. 04, 2009
Summary：
【課題】本発明の目的は、多点電極上に培養した神経回路網において精度よく切断する手法、および切断した神経回路網の再生過程を系全体のパターン(同期性)を解析することにより評価する新規な方法を提供することである。【解決手段】パルスレーザー光を顕微鏡対物レンズで集光することにより、多点電極アレイ(MEA)上に培養した神経回路網に対して、非接触かつ精度の高い切断を行う手法、及び神経回路網全体の機能を解析するアルゴリズムを備えた装置により、MEAを損傷することなく神経回路網のみを切断し、従来困難であった神経回路網全体の機能解析を実現した。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
パルスレーザー光を出力する光源と、 該光源から出力される前記パルスレーザー光の光路を変更して出力レーザー光とし、該出力レーザー光を走査させる走査部と、 該走査部から出力される前記出力レーザー光を集光させる集光部と、 複数の電極を有するプローブと、 複数の前記電極に接続された測定・処理装置とを備え、 前記プローブに神経回路網が搭載された状態で、前記測定・処理装置が、複数の前記電極の電位を所定の時間測定して複数の第1データとして記録し、 その後、前記光源から出力される前記パルスレーザー光を、前記走査部及び前記集光部を介して、複数の前記電極を第1領域及び第2領域に区分する軌道上を走査するように、前記神経回路網に照射して神経回路網を切断し、 前記神経回路網が切断された後に、前記測定・処理装置が、複数の前記電極の電位を所定時間測定して複数の第2データとして記録し、 前記測定・処理装置が、 前記第1領域に属する電極に対応する前記第1データ全体からパルス発生頻度を表す第1時系列データを生成し、前記第2領域に属する電極に対応する前記第1データ全体からパルス発生頻度を表す第2時系列データを生成し、且つ、前記第1及び第2時系列データから第1相互相関係数を求め、 前記第1領域に属する電極に対応する前記第2データ全体からパルス発生頻度を表す第3時系列データを生成し、前記第2領域に属する電極に対応する前記第2データ全体からパルス発生頻度を表す第4時系列データを生成し、且つ、前記第3及び第4時系列データから第2相互相関係数を求め、 前記第2相互相関係数を前記第1相互相関係数で除して得られた値を同期性として決定することを特徴とする神経回路再生機能の解析装置。
IPC (5)：
C12M 1/42 ,  C12Q 1/04 ,  C12Q 1/02 ,  G01N 33/15 ,  G01N 33/50
FI (5)：
C12M1/42 ,  C12Q1/04 ,  C12Q1/02 ,  G01N33/15 Z ,  G01N33/50 Z
F-Term (26)：
2G045AA40 ,  2G045BB20 ,  2G045CB01 ,  2G045FA34 ,  2G045GC18 ,  2G045JA01 ,  2G045JA07 ,  4B029AA07 ,  4B029AA27 ,  4B029BB11 ,  4B029CC02 ,  4B029CC11 ,  4B029FA02 ,  4B029FA15 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ20 ,  4B063QR51 ,  4B063QR69 ,  4B063QR77 ,  4B063QR82 ,  4B063QS24 ,  4B063QS28 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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