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J-GLOBAL ID:200903027621370325

粒子分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 野河 信太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993296936
Publication number (International publication number):1995151671
Application date: Nov. 26, 1993
Publication date: Jun. 16, 1995
Summary:
【要約】【構成】 蛍光を発することができる被検粒子を含む試料液の周囲にシース液を流しシースフローを形成し、偏平な試料液流を形成するフローセルと、偏平な試料液流の幅の狭い側から試料液流に対して蛍光励起光を連続的に照射するための蛍光励起用光源と、試料液流中を移動する被検粒子が所定の撮像可能位置に達したとき被検粒子の発する蛍光を試料液流の幅の広い側から受光しその蛍光を2次元像として増倍して被検粒子の蛍光像を撮像する撮像手段と、被検粒子からの蛍光を所定時間だけ受光させるためのシャッター手段を備える。【効果】 偏平な試料流の幅の狭い側から蛍光励起光を入射し、粒子から励起される蛍光を試料流の幅の広い側から撮像するようにしたので、励起光を細く絞ることができ励起光照射強度を強くすることができ、その分励起される蛍光が強い。また、励起用光源の直接光が撮像素子に入射しないので、S/Nの良い蛍光像を得ることができる。
Claim (excerpt):
被検粒子を含む試料液の周囲にシース液を流し偏平な試料液流を形成するフローセルと、偏平な試料液流の幅の狭い側から試料液流に蛍光励起光を連続的に照射する蛍光励起用光源と、試料液流中を移動する被検粒子が所定の撮像可能位置に達したとき、被検粒子の発する蛍光を試料液流の幅の広い側から受光し、被検粒子の蛍光像を撮像する撮像手段と、被検粒子からの蛍光を所定時間だけ撮像手段に受光させるためのシャッター手段を備えた粒子分析装置。
IPC (2):
G01N 15/14 ,  G01N 21/64

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