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J-GLOBAL ID：200903027633876496

蛍光体塗布むら検査方法

Inventor： 浅野 敏郎 ,  本郷 幹雄 ,  中豊留 博文 ,  古川 正
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998163200
Publication number (International publication number)：1999352013
Application date： Jun. 11, 1998
Publication date： Dec. 24, 1999
Summary：

【要約】【課題】蛍光体の励起に使う254nmの照度むらをTVカメラで、測定するのは、困難である。【解決手段】436nmの成分で、水銀ランプの照度むら補正を行う。また、R,G,Bの分離および、不要な水銀スペクトルが入射しないように、狭帯域フィルタをレンズと撮像素子の間に設置する。

Claim (excerpt)：

電子ディスプレイの蛍光体塗布検査において、実際に励起発光させている水銀ランプの紫外線波長の強度分布で照度むらを測定するのではなく、可視光域のスペクトル強度分布で、照度むらを測定することを特徴とする蛍光体塗布むら検査方法。

IPC (4)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/88 ,  H01J 9/42 ,  H01J 17/04

FI (4)：

G01M 11/00 Z ,  G01N 21/88 Z ,  H01J 9/42 A ,  H01J 17/04