Pat
J-GLOBAL ID:200903027638159784
露光用マスク及びその製造方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997181281
Publication number (International publication number):1999026355
Application date: Jul. 07, 1997
Publication date: Jan. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 遮光膜のエッチングに起因する寸法変換差や、遮光膜の薄皮残り等が生じるのを防止することができ、露光精度の向上に寄与する。【解決手段】 フォトマスクの製造方法において、石英からなる透明基板11上にレジストパ12のターンを形成したのち、このレジストパターンをマスクに基板11を選択エッチングして溝部13を形成し、次いで溝部13を有する基板11の表面上にシリコンからなる遮光膜14を形成し、次いで遮光膜14及び基板11をCMP法で所定量エッチングすることにより、溝部13に遮光膜14を埋め込むと共に基板表面を平坦化し、しかるのち基板11の遮光膜形成面に透明膜を形成する。
Claim (excerpt):
表面部に溝が形成された透明基板と、前記溝内に埋め込み形成された遮光膜とを具備してなり、前記基板表面が平坦化されていることを特徴とする露光用マスク。
IPC (3):
H01L 21/027
, G03F 1/08
, G03F 1/14
FI (4):
H01L 21/30 502 P
, G03F 1/08 L
, G03F 1/08 A
, G03F 1/14 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
Show all
Return to Previous Page