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J-GLOBAL ID：200903027640573547

超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法

Inventor： 東 正剛 ,  切東 章浩
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000189201
Publication number (International publication number)：2002005904
Application date： Jun. 23, 2000
Publication date： Jan. 09, 2002
Summary：

【要約】【課題】 傾いた欠陥でも検出することができ、、且つ、欠陥の評価精度が高い超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法を提供する。【解決手段】 一方の探触子12から被検体(キャノピーシール部)へ入射した超音波が被検体の底面で反射して底面エコーが発生し、この底面エコーが他方の探触子13へと戻ってくるように配設した一対の探触子12,13を備えて超音波プローブを構成する。また、一対の探触子を個別の弾性体により被検体の表面に押し付けて、これら一対の探触子が個別に被検体の表面に倣うように構成する。そして、この超音波プローブを用いて、第1の直射法測定と第2の直射法測定と透過法測定とを行い、これらの結果に基づいて欠陥の評価を行う。更には、測定感度を上げることにより、端部エコー法又はTOFD法による測定も行い、この結果からも欠陥を評価する。

Claim (excerpt)：

一方の探触子から被検体へ入射した超音波が被検体の底面で反射して底面エコーが発生し、この底面エコーが他方の探触子へと戻ってくるように配設した一対の探触子を備えてなることを特徴とする超音波プローブ。

IPC (5)：

G01N 29/10 501 ,  G01N 29/10 507 ,  G01N 29/08 507 ,  G01N 29/22 501 ,  G21C 17/003

FI (5)：

G01N 29/10 501 ,  G01N 29/10 507 ,  G01N 29/08 507 ,  G01N 29/22 501 ,  G21C 17/00 F

F-Term (14)：

2G047AA06 ,  2G047AB07 ,  2G047AC02 ,  2G047BA01 ,  2G047BA03 ,  2G047BC09 ,  2G047EA10 ,  2G047GA06 ,  2G075CA04 ,  2G075DA16 ,  2G075FA16 ,  2G075FA20 ,  2G075FB16 ,  2G075FB20