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J-GLOBAL ID：200903027738114265

蛍光寿命分布画像測定装置およびその測定方法

Inventor： 齋藤 晴久 ,  寺田 浩敏
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002156276
Publication number (International publication number)：2003344284
Application date： May. 29, 2002
Publication date： Dec. 03, 2003
Summary：

【要約】【課題】 細胞等の試料へのダメージを最小にするとともに、短時間での測定を実現することができる蛍光寿命分布画像測定装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源10より発せられたパルス励起光は、第1走査手段100により第1方向に走査され、第2走査手段120により第1方向に垂直な第2方向に走査され、対物光学系140により集光されて試料50に照射される。試料50から放出される蛍光は、対物光学系140により第2走査手段120へ出力され、第2走査手段120により第1方向に垂直な第2方向に走査して光分離手段110へ出力され、光分離手段110からストリークカメラへ出力され、ストリークカメラ30により蛍光強度の時間変化として記録される。この蛍光強度の時間変化に基づいて蛍光寿命が算出され、蛍光寿命分布画像が作成される。

Claim (excerpt)：

パルス励起光を試料に照射し、前記試料から放出される蛍光の寿命の分布を測定する蛍光寿命分布画像測定装置であって、前記パルス励起光を発するレーザ光源と、前記レーザ光源の発した前記パルス励起光を前記試料に導いて照射し、前記試料から放出される前記蛍光を導いて出力する測定用光学系と、前記測定用光学系から出力され到達した前記蛍光の蛍光強度の時間変化を記録するストリークカメラと、前記ストリークカメラで記録された前記蛍光強度の時間変化に基づいて蛍光寿命を算出し、蛍光寿命分布画像を作成する蛍光寿命分布画像作成手段と、を備え、前記測定用光学系は、第1走査手段、光分離手段、第2走査手段、及び、対物光学系を備え、前記第1走査手段は、前記レーザ光源の発した前記パルス励起光を第1方向に走査して出力し、前記光分離手段は、前記第1走査手段から到達した前記パルス励起光を前記第2走査手段へ導き、前記第2走査手段から出力され到達した前記蛍光を前記ストリークカメラに導き、前記第2走査手段は、前記光分離手段から到達した前記パルス励起光を前記第1方向に垂直な第2方向に走査して出力し、前記対物光学系から出力され到達した前記蛍光を前記第1方向に垂直な第2方向に走査して前記光分離手段へ出力し、前記対物光学系は、前記第1方向及び第2方向、それぞれに走査された前記パルス励起光を集光して前記試料に照射し、前記パルス励起光が照射されたときに前記試料から放出される蛍光を前記第2走査手段へ出力すること、を特徴とする蛍光寿命分布画像測定装置。

FI (2)：

G01N 21/64 B ,  G01N 21/64 F

F-Term (17)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA02 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043KA01 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043NA06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特表平7-505467
  
• 特開平1-227948
  
• 特開昭59-104519