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J-GLOBAL ID：200903027810218798
高分子センサ
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991215643
Publication number (International publication number)：1993005724
Application date： Aug. 28, 1991
Publication date： Jan. 14, 1993
Summary：
【要約】【目的】サンプルガス中に微量に存在する有害高分子物質を強い線源を用いず、高感度で検出、定量する小形、軽量で携帯も可能な高分子センサの提供。【構成】イオン化部20において、放射線又はコロナ放電を用いてサンプルガスの成分分子をイオン化して軽イオンを生成し、この軽イオンと高分子物質とのイオン-分子反応により重イオンを生成し、イオン通過制御部30の細隙33において、中心電極32と対向電極34の間の電界を直接的又は間接的に制御することによりイオン通過制御部30におけるイオンの通過を制御し、通過イオンをメッシュ状の集電極41に捕集して、集電極41の出力に基づいて高分子物質を検出、定量するようになした。
Claim (excerpt)：
サンプルガス中に微量に存在する高分子物質を検出する高分子センサであって、前記サンプルガスを導入するガス導入部と、このガス導入部の後段に設けられ、前記ガス導入部から導入された前記サンプルガスを大気圧下でイオン化して軽イオンを生成し、この軽イオンと前記高分子物質とのイオン-分子反応によって前記高分子物質をイオン化して重イオンを生成するイオン化部と、このイオン化部の後段に設けられ、固定電位の第1電極とこの第1電極に細隙を介し対向して設けられ前記第1電極との間に電界が形成される第2電極とを有し、前記イオン化部から導入された前記サンプルガスと前記軽イオンと前記重イオンの前記細隙の通過を前記電界により制御するイオン通過制御部とこのイオン通過制御部の後段に設けられ、このイオン通過制御部を通過したイオンを捕集して、このイオンの捕集量に応じた信号を出力する集電極と、を備えたことを特徴とする高分子センサ。
IPC (4)：
G01N 27/60
, G01N 27/64
, G01N 27/68
, G01N 27/62
