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J-GLOBAL ID：200903027864675418

試料分析装置

Inventor： 向 紀雄
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995036220
Publication number (International publication number)：1996211039
Application date： Jan. 31, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 現在分析している試料中の物質を直ちに同定することができ、且つ現在採取され分析されているデ-タが正常値かどうかも、直ちに判断できる試料分析装置を提供する。【構成】 クロマトグラムデ-タ採取装置1と、クロマトグラムデ-タ処理装置魔で処理されたクロマトグラムデ-タ及び既知物質のクロマトグラムデ-タを記憶する記憶手段2aと該記憶手段よりデ-タを取り出す記憶取出手段2bとデ-タ処理手段2cを備えた中央演算処理装置2と、既知物質のクロマトグラム及び分析されるクロマトグラムデ-タをリアルタイムに表示する分析デ-タ表示装置3と、で構成される。

Claim (excerpt)：

クロマトグラムデ-タ採取装置と、該クロマトグラムデ-タ処理装置で処理されたクロマトグラムデ-タ及び既知物質のクロマトグラムデ-タを記憶する記憶手段とこれらのクロマトグラムデ-タを該記憶手段より取り出す記憶取出手段とデ-タ処理手段を備えた中央演算処理装置と、前記既知物質のクロマトグラム及びクロマトグラムデ-タ採取装置により分析されるクロマトグラムデ-タをリアルタイムに表示する分析デ-タ表示装置と、を備えたことを特徴とする試料分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-191055
  
• 特開昭59-154357
  
• 特開平2-181649