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J-GLOBAL ID：200903027972748596
湿式磁粉探傷試験方法及び該方法に用いる余剰磁粉除去装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
安藤 順一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993208999
Publication number (International publication number)：1995043348
Application date： Jul. 30, 1993
Publication date： Feb. 14, 1995
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 バックグランド現象が解消でき、精度の高い試験結果が得られる湿式磁粉探傷試験技術を提供する。【構成】 磁化された被検査物表面に蛍光磁粉を分散した磁粉液を接触させて欠陥部に蛍光磁粉を付着させた後、当該被検査物を磁石3又は磁気フィルターの存在下に流水速度12 m/min 〜60 m/min の流水中に浸漬して引き上げ、次いで、欠陥部に付着している蛍光磁粉模様によって欠陥部の存在を探傷する。
Claim (excerpt)：
磁化された被検査物の表面に蛍光磁粉を分散した磁粉液を接触させて欠陥部に生じる漏洩磁束により該欠陥部に蛍光磁粉を付着させ、次いで、当該被検査物を磁石又は磁気フィルターの存在下に流水速度12 m/min 〜60 m/min の流水中に浸漬して引き上げることによって欠陥部に付着せずに被検査物表面に残留していた余剰蛍光磁粉を除去した後、欠陥部に付着している蛍光磁粉模様によって欠陥部の存在を探傷することを特徴とする湿式磁粉探傷試験方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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