計測用内視鏡装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：大菅義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005031126
Publication number (International publication number)：2006020276
Application date： Feb. 07, 2005
Publication date： Jan. 19, 2006
Summary：

【課題】計測対象を撮像して元画像として読み取り、読み取った元画像上の計測点の位置に基づいて計測を行う計測用内視鏡装置において、容易に計測点の指定が可能であり、高精度な計測を行うことができる計測用内視鏡装置を提供する。【解決手段】計測対象を撮像して得られた元画像に対し、例えば拡大画像生成処理を行い、計測点を指定する際、大きく移動する場合には元画像の画素間隔の指定を行い、詳しく詳細な移動を行うためには元画像の画素間隔より細かな指定を行い、効率よく測定点の指定を行う計測用内視鏡装置である。また、上記設定を切り換え可能とすることによって、より容易に計測点の指定を行うことが可能となる。例えば、計測点が離れている場合、移動量を画素間隔として迅速に指定点を計測点に近づけ、その後移動量の単位を画素間隔より細かい設定に切り換え、指定点を正確に計測点に近づけ、ユーザによる計測点の指定を容易に行わせる。【選択図】図8

Claim (excerpt)：

画素単位でサンプリングして読み取った画像を元画像として取得する元画像取得手段と、前記元画像の一部または全部の領域に対して所定の位置でサンプリングして画像を生成する再サンプリング画像生成手段とを有する計測用内視鏡装置において、前記再サンプリング画像生成手段において元画像の一部または全部の領域内の各画素に対応するサンプリング点を、元画像の画素間隔より細かい単位で移動させるサンプリング点移動手段と、該サンプリング点移動手段でサンプリング点を所望の点に移動することによって、元画像の画素間隔より細かい単位で計測点の元画像上の位置を指定する計測点位置指定手段と、指定された計測点の位置に基づいて、元画像の画素間隔より細かい単位で計測を行う計測手段と、を有することを特徴とする計測用内視鏡装置。

IPC (6)：

H04N 7/18 , A61B 1/00 , G01B 11/00 , G02B 23/24 , G06T 3/40 , G06T 5/20

FI (6)：

H04N7/18 C , A61B1/00 300E , G01B11/00 H , G02B23/24 Z , G06T3/40 A , G06T5/20 A

F-Term (53)：

2F065AA03 , 2F065AA04 , 2F065AA22 , 2F065AA25 , 2F065AA49 , 2F065AA51 , 2F065AA58 , 2F065CC08 , 2F065FF05 , 2F065FF09 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065PP00 , 2F065QQ24 , 2F065QQ33 , 2F065QQ34 , 2F065QQ38 , 2F065QQ42 , 2F065SS02 , 2F065SS03 , 2F065SS13 , 2F065SS15 , 2H040AA01 , 2H040BA22 , 2H040FA01 , 2H040GA11 , 4C061AA00 , 4C061BB01 , 4C061BB06 , 4C061CC07 , 4C061DD03 , 4C061LL02 , 4C061NN05 , 4C061WW03 , 5B057AA04 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CD05 , 5B057DA07 , 5B057DA16 , 5C054CA04 , 5C054CC02 , 5C054EA05 , 5C054EB02 , 5C054ED14 , 5C054EJ07 , 5C054FC15 , 5C054FD07 , 5C054FE13 , 5C054HA05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

特開平4-332523号公報

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