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J-GLOBAL ID：200903028252585513

電磁界強度算出装置及び電磁界強度算出方法

Inventor： 大津 信一 ,  向井 誠
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 森田 寛 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996302849
Publication number (International publication number)：1997196986
Application date： Nov. 14, 1996
Publication date： Jul. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、電磁界強度算出装置に関し、電気回路装置の放射する電磁界強度を高精度を維持しつつ高速で算出することを目的とする。【解決手段】 サンプル計算処理部4はサンプリング周波数における相互インピーダンス等を近似式を用いずに算出する。この相互インピーダンス等及びサンプリング周波数を用いて、近似係数算出処理部5は近似係数と周波数とで表された周波数の多項式からなる相互インピーダンス等を表す近似式に従って近似係数を算出する。この近似係数を用いて近似計算処理部9は指定された周波数における相互インピーダンス等を前記近似式により算出する。この相互インピーダンス等を用いて、電磁流計算処理部10は各要素を流れる電流値及び/又は磁流値を算出する。この電流値及び/又は磁流値を用いて電界磁界計算処理部11は電界及び磁界を算出する。

Claim (excerpt)：

電気回路装置の放射する電磁界強度を算出する電磁界強度算出装置において、相互インピーダンス、相互アドミッタンス及び相互リアクションのいずれか又は全てについて、当該相互インピーダンス、相互アドミッタンス及び相互リアクションを表す近似式における複数の近似係数を算出する近似係数計算部と、前記近似係数計算部が算出した複数の近似係数を用いて、前記近似式に従って、指定された周波数における相互インピーダンス、相互アドミッタンス及び相互リアクションのいずれか又は全ての近似値を算出する近似計算処理部と、前記近似計算処理部が算出した近似値を用いた所定の計算によって、各要素を流れる電流,磁流のいずれか又は両方の値を算出する電磁流計算処理部と、前記電磁流計算処理部が算出した複数の電流,磁流のいずれか又は両方の値を用いた所定の計算によって、電界及び磁界を算出する電界磁界計算処理部とを備えることを特徴とする電磁界強度算出装置。

IPC (3)：

G01R 29/08 ,  G06F 17/50 ,  G01R 31/28

FI (3)：

G01R 29/08 Z ,  G06F 15/60 666 Z ,  G01R 31/28 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 電磁界強度算出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-095362   Applicant：富士通株式会社