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J-GLOBAL ID：200903028310902974

自動分析装置の試験片表裏判別手段

Inventor： 横田 宏 ,  高橋 敬二
Applicant, Patent owner： バイエルコーポレーション
Agent (1)： 津国 肇 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994119737
Publication number (International publication number)：1995306209
Application date： May. 10, 1994
Publication date： Nov. 21, 1995
Summary：

【要約】【構成】 試験片の表裏を一定に整えるための自動分析装置の試験片表裏判別手段において、搬送ステージ11の、試験片1の移動方向と直交する方向に並びかつ試験片1の試験パッド3と試験パッド3の間隙に対応する位置に形成された吸引孔15と、搬送ステージ11の奥部に配置されたターンテーブル16上に試験片1の試験パッド3と試験パッド3の間隙に対応する位置に形成された吸引孔17とからなる自動分析装置の試験片表裏判別手段。【効果】 試験片の試薬部の表裏の判別を確実に行えるので、事前に表裏を揃える手間が掛からず、例えば試験片が収納された容器をそのまま分析装置にセットし、容器から直接試験片を取り出すことができる自動分析装置に適用すれば完全な自動化を図ることができる。

Claim (excerpt)：

試験片の表裏を一定に整えるための自動分析装置の試験片表裏判別手段において、搬送ステージの、試験片の移動方向と直交する方向に並びかつ試験片の試薬を含浸させた試験パッドと試験パッドの間隙に対応する位置に形成された吸引孔と、該搬送ステージ奥部に配置されたターンテーブル上に試験片の試薬を含浸させた試験パッドと試験パッドの間隙に対応する位置に形成された吸引孔とからなることを特徴とする自動分析装置の試験片表裏判別手段。

IPC (3)：

G01N 35/04 ,  G01N 21/78 ,  G01N 33/52

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 試験片供給装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-061843   Applicant：株式会社日立製作所