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J-GLOBAL ID：200903028449898670

部品評価支援システム

Inventor： 佐々波 素子 ,  鈴木 公三
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991137885
Publication number (International publication number)：1993135063
Application date： Jun. 10, 1991
Publication date： Jun. 01, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、部品の評価試験を行うにあたり、評価計画書を作成する場合における部品評価支援システムに関し、熟練者の経験なノウハウを要することなく、誰でも効率的な部品の評価計画書又は評価報告書を作成することができる部品評価支援システムを提供することを目的としている。【構成】 全体の制御動作を行うCPU1と、各種情報の入力を行うキーボード2と、各種の情報を表示する表示部3と、熟練者の部品試験に関する経験的ノウハウや知識をルール化して格納するノウハウ情報データベース4と、過去の部品試験の評価や障害の発生等に関する情報と部品情報とを格納する実績データベース5とにより構成される。

Claim (excerpt)：

全体の制御動作を行うCPU(1)と、各種情報の入力を行うキーボード(2)と、各種の情報を表示する表示部(3)と、熟練者の部品試験に関する経験的ノウハウや知識をルール化して格納するノウハウ情報データベース(4)と、過去の部品試験の評価や障害の発生等に関する情報と部品情報とを格納する実績データベース(5)とにより構成される部品評価支援システム。

IPC (2)：

G06F 15/21 ,  G06F 9/44 330

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平3-015768
  
• 特開平2-201295
  
• 特開平2-069619
  
• 特開平2-299026