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J-GLOBAL ID：200903028461125023

高精度電圧試験装置

Inventor： 川端 雅之
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994215283
Publication number (International publication number)：1996062307
Application date： Aug. 17, 1994
Publication date： Mar. 08, 1996
Summary：

【要約】【目的】高精度電圧測定装置において、基準電圧と被測定用電圧を比較測定するなかで隣接する2つの出力を差動アンプを介して規定倍数拡大させ高精度で高速度で経済性の良い電圧測定装置を提供する。【構成】基準電圧と被測定用電圧を比較測定するなかで例えば被測定用LCDドライバIC1の出力電圧偏差を測定する場合、当該ICピンP1〜Pnの各々に接続するバッフアアンプB1〜Bnを設け、隣接するバッフアアンプB1〜Bnの2つを一組として接続する差動アンプS1〜Snを設け、差動アンプS1〜Snに接続する電圧測定ユニットVu1〜Vnを設けた構成である。バッフアアンプB1〜Bnと差動アンプS1〜Snの間にマルチプレクサMoを接続する構成である。

Claim (excerpt)：

被測定用LCDドライバIC(1)のピン(P1、P2、P3、Pn-1、Pn)より出力される電圧を測定する電圧測定ユニット(Vu1、Vu2、Vu3、Vun-1、Vun)において、被測定用LCDドライバIC(1)のピン(P1、P2、P3、Pn-1、Pn)の各々に接続するバッフアアンプ(B1、B2、B3、Bn-1、Bn)を設け、隣接するバッフアアンプ(B1、B2、B3、Bn-1、Bn)の出力側を2個一組として差動アンプの入力側と接続した差動アンプ(S1、S2、S3、Sn-1、Sn)を設け、差動アンプ(S1 、S2 、S3 、Sn-1、Sn)の出力側に電圧測定ユニット(Vu1、Vu2、Vu3、Vun-1、Vun)を接続する、以上の構成を具備することを特徴とする高精度電圧試験装置。

IPC (3)：

G01R 31/319 ,  G01R 19/00 ,  G01R 19/10