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J-GLOBAL ID:200903028466712075
腐食モニタリング用試験片、方法及び装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
重野 剛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997282035
Publication number (International publication number):1999118703
Application date: Oct. 15, 1997
Publication date: Apr. 30, 1999
Summary:
【要約】【課題】 実プラントで腐食が問題となる環境を模擬した条件下でのモニタリングを可能とする。【解決手段】 金属片1,1’がスポット溶接部3においてスポット溶接されている。スポット溶接部3以外の金属片1,1’間にすきま部が生じている。金属片1には電位測定用の被覆導線6の端部がハンダ付けなどにより接合されており、この接合部分が絶縁性物質で覆われている。金属片1の外側面に面状発熱体2が接着剤により接着され、絶縁性物質5で覆われている。この試験片11を試験水中に浸漬し、参照電極13との間の電位を測定し、腐食をモニタリングする。
Claim (excerpt):
金属部材の腐食モニタリング用試験片であって、該金属と同材料の材質からなり、溶接部、すきま部および伝熱部を有することを特徴とする腐食モニタリング用試験片。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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特開昭51-147386
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すき間腐食の評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-343903
Applicant:株式会社日立製作所
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腐食量測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-006287
Applicant:トヨタ自動車株式会社
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腐食測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-161248
Applicant:株式会社片山化学工業研究所
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