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J-GLOBAL ID：200903028475046150
不揮発性メモリの消去特性向上回路
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岡田 敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995068264
Publication number (International publication number)：1996273381
Application date： Mar. 27, 1995
Publication date： Oct. 18, 1996
Summary：
【要約】【目的】 EEPROM等のデータの書き込み読み出しが可能であり且つデータの電気的消去が可能な不揮発性メモリの消去時間を可変できる不揮発性メモリの消去特性向上回路を提供することを目的とする。【構成】 ビット線3に流れる電流に応じて不揮発性メモリの消去時間を制御できる様にした。これにより、不揮発性メモリに書き込み済みのデータの消去特性を向上させることができ、不揮発性メモリにデータを再書き込みする場合の書き込み回数の向上を図ることができる。
Claim (excerpt)：
データの書き込み読み出しが可能な不揮発性メモリを構成する複数のメモリセルを、マトリクス配置された複数のビット線及びワード線の交差上に接続し、選択されたワード線に対応するビット線に流れる電流を電圧に変換する電流電圧変換手段と、前記電流電圧変換手段から得られた電圧をデジタル値に変換するAD変換手段と、前記AD変換手段から得られるデジタル値と基準となるデジタル値とを比較判定する比較判定手段と、前記比較判定手段の出力に応じた、前記メモリセルのデータを消去する為の消去電圧を、対応する前記ワード線に印加させる制御手段と、を備えたことを特徴とする不揮発性メモリの消去特性向上回路。
FI (2)：
G11C 17/00 530 A
, G11C 17/00 309 K
