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J-GLOBAL ID：200903028507006636

配光特性測定装置

Inventor： 鈴木 健一
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991196422
Publication number (International publication number)：1993040060
Application date： Aug. 06, 1991
Publication date： Feb. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光源などの被測定対象物の配光特性の測定において、配光特性の測定ピッチを密にすることなく、精度よく光束値などを算出できる配光特性測定装置を提供する。【構成】 被測定対象物としての光源などから放射される配光特性を、配光特性鉛直角方向の測定点において検出素子1により測定し、この配光データを用いて、配光特性鉛直角方向の測定点の測定間隔内の配光特性鉛直角方向の補間点における配光データを補間法を用いて補間処理手段4において算出する。また、同様に水平角方向の測定点においても補間点を算出する。これら測定点と補間点からなる配光データ用い、光束計算手段5において球帯係数法により計算することにより、光束値を精度よく表示手段6に表示することができる。

Claim (excerpt)：

被測定対象物の配光測定データ間に特定の測定間隔を有する配光特性測定データ群を測定する第1の測定手段と、前記第1の測定手段により測定された配光特性測定データ群より補間により前記測定間隔内の配光特性補間データ群を算出する第1の算出手段と、前記配光特性測定データ群および前記配光特性補間データ群の個々の要素に対して球帯係数を乗じ、積算することにより被測定対象物からの光束を計算する第2の算出手段とを具備する配光特性測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭58-117422
  
• 特開昭60-187825
  
• 特開昭56-098624