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J-GLOBAL ID：200903028556247614

累積型化学・物理現象検出装置のリセット雑音除去回路

Inventor：
澤田 和明

About 澤田 和明


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001018905
Publication number (International publication number)：2002221435
Application date： Jan. 26, 2001
Publication date： Aug. 09, 2002
Summary：
【要約】【課題】 リセット雑音消去回路を累積センサに付加することにより、超高感度の検出が可能な累積型化学・物理現象検出装置のリセット雑音除去回路を提供する。【解決手段】 累積型化学・物理現象検出装置のリセット雑音除去回路において、フローティングディフュージョン領域をリセットしたときの電位のレベルをあらかじめ記憶する容量13と、化学物理現象の変化に伴う信号をフローティングディフュージョン領域に複数回累積した後の信号により変化した電位を記憶する容量14と、信号を導く前に容量リセット信号VRST1を印加して前記二つの容量13,14の電位を揃える回路とを備え、その後に信号を累積する前と累積した後の電位レベルの差を読み取ることにより、リセットの雑音を除去する。
Claim (excerpt)：
(a)フローティングディフュージョン領域をリセットしたときの電位のレベルをあらかじめ記憶する容量と、(b)化学物理現象の変化に伴う信号を前記フローティングディフュージョン領域に複数回累積した後の信号により変化した電位を記憶する容量と、(c)前記信号を導く前に容量リセット信号を印加して前記二つの容量の電位を揃える回路とを備え、(d)その後に信号を累積する前と累積した後の電位レベルの差を読み取ることにより、リセットの雑音を除去することを特徴とする累積型化学・物理現象検出装置のリセット雑音除去回路。
IPC (4)：
G01D 3/00 ,  H01L 29/762 ,  H01L 21/339 ,  H01L 29/78
FI (3)：
G01D 3/00 B ,  H01L 29/76 301 C ,  H01L 29/78 301 U
F-Term (16)：
2F075AA05 ,  2F075AA10 ,  2F075EE07 ,  4M118AA10 ,  4M118AB10 ,  4M118BA30 ,  4M118DD03 ,  4M118DD04 ,  4M118DD09 ,  4M118DD11 ,  4M118DD12 ,  5F140AA03 ,  5F140AA37 ,  5F140AB03 ,  5F140AB09 ,  5F140AC37
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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