Pat

J-GLOBAL ID：200903028603523552

画像処理による傷検査方法

Inventor： 横山 晴彦 ,  小林 彰
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992306801
Publication number (International publication number)：1994160295
Application date： Nov. 17, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 塵や汚れと、傷との識別を確実に行える画像処理による傷検査方法を提供することを目的としている。【構成】 画像処理によって各画像の方向性を求めて傷か否かを判断する傷検査方法において、被検査物の画像データを処理して検査対象になる2値画像群1を求め、これらの2値画像群1を構成する画素を各2値画像1毎に分割した分割領域を作り、前記各分割領域について2次モーメントが最小になる短軸2次モーメントを求め、前記各分割領域から短軸2次モーメントの軸方向が同じ方向の2つの領域を融合した場合の融合領域の融合短軸2次モーメントを求め、前記融合短軸2次モーメントが所定値より小さい前記融合領域について、前記融合領域の面積と、前記面積と前記融合短軸2次モーメントとから演算して得られる前記融合領域の形状と方向性とを示す特徴値との組合わせで前記融合領域が傷か否かを判断することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

画像処理によって各画像の方向性を求めて傷か否かを判断する傷検査方法において、被検査物の画像データを処理して検査対象になる2値画像群を求め、これらの2値画像群を構成する画素を各2値画像毎に分割した分割領域を作り、前記各分割領域について2次モーメントが最小になる短軸2次モーメントを求め、前記各分割領域から短軸2次モーメントの軸方向が同じ方向の2つの領域を融合した場合の融合領域の融合短軸2次モーメントを求め、前記融合短軸2次モーメントが所定値より小さい前記融合領域について、前記融合領域の面積と、前記面積と前記融合短軸2次モーメントとから演算して得られる前記融合領域の形状と方向性とを示す特徴値との組合わせで前記融合領域が傷か否かを判断することを特徴とする画像処理による傷検査方法。

IPC (5)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330 ,  G06F 15/70 370