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J-GLOBAL ID：200903028723754825

質量分析計

Inventor： ベイトマン、ロバート、ハロルド ,  ジャイルズ、ケビン ,  プリングル、スティーブン、デレク ,  ワイルドグース、ジェイソン、リー
Applicant, Patent owner： マイクロマス ユーケー リミテッド
Agent (1)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007539630
Publication number (International publication number)：2008519410
Application date： Nov. 03, 2005
Publication date： Jun. 05, 2008
Summary：

質量分析計は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ(4)と、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ(4)の下流側に配置されたイオンガイド(6)とを備えている。イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ(4)から受け取ったイオンが、個別の軸方向電位井戸内に閉じ込められるよう、イオンガイド(6)内で、複数の軸方向電位井戸が作られる。電位井戸は、イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータ(4)から受け取ったイオンの忠実性および/または構成を維持する。電位井戸は、イオンガイド(6)の長手方向に沿って移動する。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

質量分析計であって、 イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータと、 前記イオンモビリティセパレータまたはスペクトロメーターの下流側に、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータからのイオンを捕集するように配置された、複数の電極を備える第一のイオンガイドと、 第一のオペレーションモードにおいて、前記イオンモビリティスペクトロメーターまたはセパレータから捕集したイオンが、前記第一のイオンガイドの個別領域または個別部分において、保持および/または拘束および/または輸送および/または移動されるように、一種類もしくは複数の電圧、または一種類もしくは複数の電圧波形を前記複数の電極に印加するように配置および適合させた第一の電圧印加手段と、 前記第一のイオンガイドの下流側に配置された質量分析器とを備える質量分析計。

IPC (5)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/26 ,  H01J 49/06

FI (7)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 K ,  G01N27/64 B ,  G01N27/62 L ,  H01J49/26 ,  H01J49/06

F-Term (22)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA02 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA12 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA29 ,  2G041HA03 ,  2G041KA01 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05