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J-GLOBAL ID：200903028775382187

電子部品の寿命診断方法

Inventor：
佐々木 恵一

About 佐々木 恵一


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 山下 一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999345060
Publication number (International publication number)：2001165822
Application date： Dec. 03, 1999
Publication date： Jun. 22, 2001
Summary：
【要約】【課題】 診断時に計測した特徴量に基づいて加速係数を導出することを可能にし、より現実的な余寿命推定を実現する電子部品の寿命診断方法を提供する。【解決手段】 電子部品に加速劣化試験を施し所定時間毎に取り出した部品について、劣化を示す特徴量を測定し、その時系列変化を導出する(工程1)。また、加速劣化試験を施し所定時間毎に故障と判定された部品の特徴量を測定し、特徴量に対する故障確率密度分布を導出する(工程2)。これらのデータを診断DB4に保存し、保存されたこれらのデータと診断時に計測した特徴量に基づいて加速係数を導出し、診断対象となる電子部品の余寿命を推定する(工程3)。
Claim (excerpt)：
電子部品の劣化を定量的に示す特徴量の時系列変化を導出する時系列変化導出工程と、前記電子部品の前記特徴量に対する故障確率密度分布を導出する故障確率密度分布導出工程と、前記特徴量の時系列変化と前記故障確率密度分布から前記電子部品が所望の信頼水準を満たす余寿命を推定する余寿命推定工程とを備えたことを特徴とする電子部品の寿命診断方法。
IPC (2)：
G01M 19/00 ,  H01L 21/66
FI (2)：
G01M 19/00 Z ,  H01L 21/66 Z
F-Term (19)：
2G024AD28 ,  2G024BA12 ,  2G024CA30 ,  2G024DA15 ,  2G024DA16 ,  2G024DA17 ,  2G024FA06 ,  4M106AA02 ,  4M106AA04 ,  4M106AA08 ,  4M106AA11 ,  4M106AA20 ,  4M106BA04 ,  4M106BA14 ,  4M106BA20 ,  4M106CA01 ,  4M106CA40 ,  4M106CA56 ,  4M106CA70
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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