Pat

J-GLOBAL ID：200903028778956508

分子を検出する方法および装置

Inventor： ミッチェル・ディー・エガース ,  マイケル・イー・ホーガン ,  ケネス・ローレン・ビーティ ,  ジョン・シュメーカー ,  ダニエル・ジェイ・エーリック ,  マーク・ホリス
Applicant, Patent owner： ヒューストン・アドバンスト・リサーチ・センター ,  ベイラー カレッジ オブ メディスン ,  マサチューセッツ・インスティチュート・オブ・テクノロジー
Agent (1)： 湯浅 恭三 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992310445
Publication number (International publication number)：1993322817
Application date： Nov. 19, 1992
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明は、試料物質中の分子構造を同定するための方法と装置を提供することを目的とする。【構成】本発明の装置は、多数のテストサイトを含むアレイを有し、それぞれのテストサイトの中には、関連する標的物質の分子構造と結合しうるプローブが連結されている。このテストサイトに試料物質を加えてプローブと結合させた後、テストサイトに電気的信号を送り、テストサイトの電気的性質を検出して、どのプローブが関連する標的物質分子構造と結合したかを決定する。

Claim (excerpt)：

試料中の分子構造を同定する方法であって、多数のテストサイトであって、それぞれのテストサイトの中に関連する標的分子構造と結合するためのプローブが形成されているテストサイトに試料を加える;電気信号を該テストサイトに与える;および多くの異なる標的物質が検出できるように、テストサイトの電気的性質を検出して、どのプローブが関連する標的分子構造に結合したかを決定する;の各工程を含むことを特徴とする方法。

IPC (3)：

G01N 27/02 ,  G01N 33/50 ,  C12Q 1/68 ZNA

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-011861
  
• 特表平2-503596
  
• 特開平3-128449
  
• 特開昭64-006853