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J-GLOBAL ID:200903028783086406
ウェハ保持部材及びその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996014492
Publication number (International publication number):1997213774
Application date: Jan. 30, 1996
Publication date: Aug. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】保持したウェハ30にパーティクルが付着しにくいウェハ保持部材を得る。【解決手段】ウェハ30の載置面11aを有する基体11をセラミックスで形成し、上記載置面11aの中心線平均粗さ(Ra)を0.1μm以下とするとともに、載置面11aのボイド中の残留物を除去してウェハ保持部材を構成する。
Claim (excerpt):
ウェハの載置面を有する基体をセラミックスで形成し、該載置面の中心線平均粗さ(Ra)を0.1μm以下とするとともに、上記載置面における0.01mm2 の範囲中に、0.1μm以上の残留物が存在するボイドの個数が100個以下、または0.1μm以上の大きさの残留物の個数が500個以下であることを特徴とするウェハ保持部材。
IPC (5):
H01L 21/68
, B23Q 3/15
, C23C 14/50
, H01L 21/205
, H01L 21/3065
FI (5):
H01L 21/68 N
, B23Q 3/15 D
, C23C 14/50 D
, H01L 21/205
, H01L 21/302 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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ウェハ搬送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-175501
Applicant:京セラ株式会社
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板状物保持手段およびそれを用いた装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-199617
Applicant:株式会社日立製作所
-
半導体製造用サセプタおよびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-299368
Applicant:京セラ株式会社
-
静電チャック
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-319291
Applicant:信越化学工業株式会社
-
半導体製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-294066
Applicant:ソニー株式会社
-
静電チャック
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-220873
Applicant:富士電機株式会社
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