Pat
J-GLOBAL ID:200903028906494199
蛍光分光分析装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 河野 哲
, 風間 鉄也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002361159
Publication number (International publication number):2004191251
Application date: Dec. 12, 2002
Publication date: Jul. 08, 2004
Summary:
【課題】複数のレーザビームを用いて複数点の蛍光統計分布解析を行うことのできる高性能・低コストな蛍光分光分析装置を提供する。【解決手段】試料に照射するための励起光を発生する励起光源(1)と、励起光を試料の複数個所に同時に照射するための光束をファイバ(2)を用いて形成するファイバ光学系と、ファイバ光学系によって形成される複数光源を試料に照射するための励起光学系と、励起光を照射された試料より発する蛍光を同時に検出する複数の検出器(11)と、検出器に蛍光を導く検出光学系とを備えた蛍光分光分析装置である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
試料に照射するための励起光を発生する励起光源と、
前記励起光を試料の複数個所に同時に照射するための光束をファイバを用いて形成するファイバ光学系と、
前記ファイバ光学系によって形成される複数光源を試料に照射するための励起光学系と、
前記励起光を照射された試料より発する蛍光を同時に検出する複数の検出器と、
前記検出器に蛍光を導く検出光学系と
を備えたことを特徴とする蛍光分光分析装置。
IPC (1):
FI (2):
G01N21/64 Z
, G01N21/64 E
F-Term (20):
2G043BA16
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043JA04
, 2G043KA09
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043LA05
, 2G043NA01
, 2G043NA02
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