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J-GLOBAL ID：200903028945413325
微小ピッチコネクタの検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996279307
Publication number (International publication number)：1998123200
Application date： Oct. 22, 1996
Publication date： May. 15, 1998
Summary：
【要約】【課題】 導電接触ピンと被試験コネクタ(DUT)との接続信頼性を向上し、DUTを実装したプリント基板が高密度でも検査可能とし、中継基板の着脱時の作業性を向上し、測定用ケーブルが損傷しないようにする。【解決手段】 DUT2に嵌合させる中継コネクタ7を実装した中継基板6に測定用パッド6aをDUTの端子より充分大きいピッチ間隔で形成する。導電接触ピン3をピン・ボード8に位置決めして保持し、ケーブル5により検出器4に接続する。DUT2またはDUT2を実装したプリント基板1を位置決めして支持する試料支持盤9を設け、ピン・ボード8を昇降機構によって可動し、試料支持盤9をスライド機構により出し入れ自在とするのが望ましい。
Claim (excerpt)：
N(任意の整数)個の端子を有する被試験コネクタに嵌合させる中継コネクタを実装し、その中継コネクタのN個の端子よりそれぞれ延長された配線パターンの延長端に測定用パッドが、被試験コネクタの端子より大きいピッチ間隔で配列形成されている中継基板と、被試験コネクタの少くとも端子間の導通または遮断を検出する検出器と、前記中継基板のN個の測定パッドにそれぞれ接触させるN本の導電接触ピンが位置決めされて保持され、それら導電接触ピンが前記検出器に接続するケーブルに接続されているピン・ボードと、を具備することを特徴とする微小ピッチコネクタの検査装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01R 31/04
, G01R 31/28 S
