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J-GLOBAL ID：200903028973746623

計量機能付きX線異物検出装置及びその装置を用いた商品検査方法

Inventor： 大久保 勇三 ,  清水 謙次 ,  石南 勝
Applicant, Patent owner： 島津メクテム株式会社 ,  株式会社イシダ
Agent (1)： 福岡 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995308457
Publication number (International publication number)：1997127017
Application date： Oct. 31, 1995
Publication date： May. 16, 1997
Summary：

【要約】【課題】 被検査物品に照射したX線の透過状態から該物品への異物の混入の有無を検査するX線異物検出装置に計量機能を付加することにより、該装置の商品価値の向上や該装置を用いた商品処理ラインのコンパクト化等を図る。【解決手段】 被検査物品をX線シールドボックス2内に搬入する搬入コンベア3と、該ボックス2内から検査済みの被検査物品を搬出する搬出コンベア4とを有するX線異物検出装置において、上記搬出コンベア4に計量器4aを備えて、該コンベア4を被検査物品の重量を計量することができる計量コンベアとすると共に、制御装置11に、上記計量器4aからの信号が示す被検査物品の重量値を記憶部11dに記憶されているデータと比較することにより、当該物品の正量、不量を判定する重量処理部11cを設ける。

Claim (excerpt)：

被検査物品にX線を照射するX線照射手段と、被検査物品を透過したX線を検出するX線検出手段とを有し、被検査物品に照射されたX線の透過状態から該物品に混入した異物を検出するX線異物検出装置であって、被検査物品をX線のシールドボックス内に搬入する搬入コンベアと、該シールドボックス内から被検査物品を搬出する搬出コンベアとが配置されていると共に、シールドボックス内における搬入コンベアから搬出コンベアに至るところに上記X線照射手段とX線検出手段とが配置されており、かつ、上記搬入コンベアまたは搬出コンベアの少なくとも一方に、当該コンベア上の物品の重量を計量する計量手段が備えられていることを特徴とする計量機能付きX線異物検出装置。

IPC (6)：

G01N 23/02 ,  B07C 5/346 ,  G01G 11/00 ,  G01G 19/415 ,  G01G 19/52 ,  G01V 5/00

FI (6)：

G01N 23/02 ,  B07C 5/346 ,  G01G 11/00 H ,  G01G 19/415 Z ,  G01G 19/52 E ,  G01V 5/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-029791
  
• 特開平3-246485
  
• 商品情報処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-263250   Applicant：株式会社イシダ