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J-GLOBAL ID：200903029099465763
超音波診断装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
蔵合 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996143326
Publication number (International publication number)：1997322896
Application date： Jun. 05, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：
【要約】【課題】 超音波診断装置の並列受信において、ビームの指向性を劣化させることなく、回路物量を低減し、コストが低くかつ性能が優れた超音波診断装置を実現する。【解決手段】 超音波探触子100を構成する振動子1〜16から得られたエコー信号を第1のビームフォーマ101〜104に入力して数チャンネルずつの遅延加算を行なう。第1のビームフォーマ101〜104の出力を並列受信用ビームフォーマ111,112に入力することで並列遅延加算信号を得る。
Claim (excerpt)：
複数の振動子をいくつかのグループに分け、それぞれのグループの振動子から得られた入力信号に遅延を与えてから加算する第1のビームフォーマ群と、第1のビームフォーマ群の出力を共通の入力として用いる第2のビームフォーマ群により電子セクタ走査を行なうことを特徴とする起音波診断装置。
IPC (2)：
FI (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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