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J-GLOBAL ID:200903029100199789

細胞の物性値測定方法及び物性測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 渡邊 薫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007209108
Publication number (International publication number):2009042141
Application date: Aug. 10, 2007
Publication date: Feb. 26, 2009
Summary:
【課題】非等方的形状の細胞についても、その電気的特性を示す物性値を非破壊的に測定できる細胞の物性値測定方法及び物性値測定装置を提供する。【解決手段】先ず、測定対象の細胞の形状をモデル化し、その細胞にAC電場が印可されたときの複素誘電率応答を数値解析により求める(ステップS1)。その結果に基づいて、膜キャパシタンスCm及び細胞質導電率κiの値を変化させながら数値計算して、誘電スペクトルを算出する(ステップS2)。算出した誘電スペクトルを誘電緩和式に回帰させて、比誘電率上昇Δε及び緩和時間τを求める(ステップS3)。次に、(Δε,τ)の(Cm,κi)への依存性を求め、測定対象の細胞の形状に応じた回帰式を作成する(ステップS4)。細胞の誘電スペクトルを実測し、その値と回帰式とを比較することで、測定対象の細胞の膜キャパシタンスCm,exp及び細胞質導電率κi,expを求める(ステップS5)。【選択図】図1
Claim (excerpt):
任意の膜キャパシタンスCm及び細胞質導電率κiを設定して数値解析することにより、特定形状の細胞について誘電スペクトルを算出する工程と、 前記誘電スペクトルを誘電緩和式に回帰させて、前記細胞の比誘電率上昇Δε及び緩和時間τを求める工程と、 前記比誘電率上昇Δε及び緩和時間τに基づいて、前記細胞の形状に応じた回帰式を作成する工程と、 を有する細胞の物性値測定方法。
IPC (3):
G01N 22/00 ,  G01N 33/48 ,  G01N 27/22
FI (3):
G01N22/00 Y ,  G01N33/48 M ,  G01N27/22 C
F-Term (4):
2G045AA24 ,  2G045FB05 ,  2G060AD06 ,  2G060AF11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Article cited by the Patent:
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