Pat
J-GLOBAL ID：200903029137982050
飛行時間に依存して質量を分離するための質量分析計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中平 治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994056532
Publication number (International publication number)：1995006730
Application date： Feb. 17, 1994
Publication date： Jan. 10, 1995
Summary：
【要約】【構成】 本発明は放出電位がオフのときすべてのイオンが直線的に飛行するようになつた放出電極を利用して,飛行時間に依存して質量を分離する質量分析計であつて,イオン電流の軌道中に偏向電極が設けられており,時間的に変更可能な偏向電圧で偏向電極が負荷されており,各質量窓の局所的分解が,分解すべき質量範囲にかかわりなく,式Mwindow×Udeflect=一定に従つて生じるようになつたものに関する。【効果】 飛行時間に依存して質量を分離し,それぞれ異なる軌道への各種粒子の分割を,その質量対電荷比に従つて行うことができる。
Claim (excerpt)：
検出器平面に設けられた多数の単体検出器としてのチヤネルプレートと,時間的に変更可能な偏向電圧で負荷されている偏向電極とを有し,偏向電極のもとで偏向電位オフのときすべてのイオンが直線的に飛行する,飛行時間に依存して質量を分離するための質量分析計において,連続的時間関数で上昇及び/又は低下する偏向電圧が偏向電極(3,4)に印加され,自由に選択可能な勾配を有する2つの変更可能な限界値間で偏向電圧が調整可能であり,イオンがその質量対電荷比に従つてさまざまな軌道に偏向可能であり,かつチヤネルプレート(2)上のさまざまなイオン衝突場所に基づいて質量測定を可能とすることを特徴とする質量分析計。
IPC (2)：
Return to Previous Page
