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J-GLOBAL ID：200903029255931125

校正機能付きプロセス計装ラック

Inventor： 鍵福 辰緒
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994045659
Publication number (International publication number)：1995253812
Application date： Mar. 16, 1994
Publication date： Oct. 03, 1995
Summary：

【要約】【目的】保守,調整員の負担を軽減し、高精度な校正試験を可能にすることを目的とする。【構成】プロセス計装ラックにおいて、被校正計器3に加える基準量を発生させる基準量発生手段6と、測定レンジが調整可能であり調整された測定レンジにて前記基準プロセス量を測定する基準器8と、基準器8の測定レンジを被校正計器3の測定レンジに合わせるレンジ調整手段9と、被校正計器3による基準量の測定値と基準器8による基準量の測定値とを比較して前記被校正計器3の校正量を算出する校正手段9とを具備する。

Claim (excerpt)：

プロセス量を測定する複数の計器が集約配置されたプロセス計装ラックにおいて、前記計器のうち校正試験対象となる被校正計器に加える基準物理量を発生させる基準量発生手段と、測定レンジが調整可能であり調整された測定レンジにて前記基準物理量を測定する基準器と、前記基準器の測定レンジを前記被校正計器の測定レンジに合わせるレンジ調整手段と、前記被校正計測器による前記基準物理量の測定値と前記基準器による前記基準物理量の測定値とを比較して前記被校正計測器の校正量を算出する校正手段とを具備したことを特徴とする校正機能付きプロセス計装ラック。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 照度自動設定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-278141   Applicant：松下電器産業株式会社
• 保守機能付き計装システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-030548   Applicant：株式会社東芝
• 特開昭59-218523