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J-GLOBAL ID：200903029256689735

レアショート・テスタ

Inventor： 長谷川 彰
Applicant, Patent owner： 株式会社高砂製作所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994319512
Publication number (International publication number)：1996160093
Application date： Nov. 30, 1994
Publication date： Jun. 21, 1996
Summary：

【要約】【目的】 レアショート・テスタ。【構成】 被測定コイルと電磁的に結合された励磁コイルにパルス電流を流し、このパルス磁界によって被測定コイルのレアショートした部分に誘導電流を流し、レアショートを起こした被測定コイルの等価時定数よりも大幅に少ない立ち下がり時間で励磁電流を遮断し、励磁コイルに流れた電流が十分に減衰してから被測定コイル近傍の磁束を測定し、レアショートしたコイルから発生する磁界を選択的に検出してレアショートを検出するテスタ。

Claim (excerpt)：

被測定コイルと電気的または電磁的に結合された励磁コイルにパルス電流を流し、相互インダクタンスを介して被測定コイルのレアショートしたループに誘導電流を流し、レアショートを起こした被測定コイルの等価時定数よりも大幅に少ない立ち下がり時間で励磁電流を遮断し、励磁コイルに流れる電流が十分に減衰し、さらに励磁コイルと被測定コイルのインダクタンスとその分布容量による過渡現象がおさまってから被測定コイル近傍の磁束を測定し、レアショートしたコイルから発生する磁界の強度を検出してレアショートを検出するレアショート・テスタ。

IPC (2)：

G01R 31/02 ,  G01R 27/26