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J-GLOBAL ID：200903029275845829

後味検査方法および後味検査装置

Inventor： 内藤 悦伸 ,  佐藤 勝史 ,  池崎 秀和 ,  小林 義和
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社 ,  都甲 潔
Agent (1)： 早川 誠志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001035362
Publication number (International publication number)：2002243695
Application date： Feb. 13, 2001
Publication date： Aug. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】 後味の強さを正確に且つ効率的に把握できるようにする。【解決手段】 高分子材、脂質および可塑剤を混合して所定厚さに形成された分子膜を基準液に浸けたときの第1の膜電位Vaと、その分子膜をサンプル液の一つに浸けたときの分子膜の第2の膜電位Vbとを求めてから、分子膜を洗浄液で予備洗浄し、この予備洗浄した分子膜を基準液に浸けて第3の膜電位Vcを求め、さらに分子膜を洗浄液で完全洗浄するという一連の処理を後味が異なる複数のサンプル液に対して行い、一つのサンプル液に対して得られた第1の膜電位と第2の膜電位との差を第1の応答値Vs、第1の膜電位と第3の膜電位との差を第2の応答値Vrとし、この2つの応答値の比Rと各サンプル液の実際の後味の強さとを関係付ける情報を求める。測定対象液に対して前記同様の処理を行って比を求め、その比と前記情報とに基づいて測定対象液の後味の強さを求める。

Claim (excerpt)：

高分子材、脂質および可塑剤を混合して所定厚さに形成され、液体中の物質に応答して膜電位が変化する分子膜を用いて、後味の強さが異なる複数のサンプル液の応答値を求める段階と、前記求めた応答値と、前記各サンプル液の実際の後味の強さとを関係付ける情報を求める段階と、前記分子膜を用いて後味の強さが未知の測定対象液の応答値を求める段階と、測定対象液に対する前記分子膜の応答値と前記情報とに基づいて測定対象液の後味の強さを求める段階とを含む後味検査方法。

IPC (4)：

G01N 27/416 ,  C08K 5/00 ,  C08L101/00 ,  G01N 33/483

FI (5)：

C08K 5/00 ,  C08L101/00 ,  G01N 33/483 F ,  G01N 27/46 341 M ,  G01N 27/46 356

F-Term (19)：

2G045AA40 ,  2G045CB30 ,  2G045DA80 ,  2G045FB05 ,  2G045GC19 ,  2G045JA01 ,  2G045JA07 ,  4J002AA001 ,  4J002BD041 ,  4J002EH097 ,  4J002EH146 ,  4J002EH147 ,  4J002EN026 ,  4J002EN136 ,  4J002ES007 ,  4J002EW046 ,  4J002EW047 ,  4J002FD027 ,  4J002GT00