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J-GLOBAL ID：200903029287515956
測量装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993143224
Publication number (International publication number)：1995004967
Application date： Jun. 15, 1993
Publication date： Jan. 10, 1995
Summary：
【要約】【目的】暗い環境下における測量において、観測点に設置したタ-ゲット装置1に照明装置を持たずにタ-ゲットマ-クを高コントラストで視凖できる測量装置を提供する。【構成】測量機の視凖望遠鏡7の光軸上又は該光軸と近傍かつ並行に光束を発する、照明装置が遮光性のタ-ゲットマ-クを備えた光学反射部材2を照射する測量装置。
Claim (excerpt)：
遮光性のタ-ゲットマ-クを備えた光学反射部材と、前記光学反射部材を視準する視準望遠鏡を備えた測量機本体とからなる測量装置において、前記視準望遠鏡の光軸上、又は該光軸と近傍かつ並行に光束を発して、前記光学反射部材を照射する照明装置、を前記測量機本体に設けたことを特徴とする測量装置。
IPC (2)：
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