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J-GLOBAL ID：200903029314012732

光装置の偏光モード分散判定装置および方法

Inventor： ブライアン・エル・ヘフナー
Applicant, Patent owner： ヒューレット・パッカード・カンパニー
Agent (1)： 長谷川 次男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993032861
Publication number (International publication number)：1993273082
Application date： Jan. 28, 1993
Publication date： Oct. 22, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光線の異なる偏光状態を生成し、且つ検査中の光学装置による光線への作用によって生ずる偏光状態を測定することによって光学装置における偏光モード分散を判定する。【構成】 偏光光源9で、少なくとも2つの波長毎に、3つの偏光状態を光線に順次生成し、上記光ネットワークに各波長で上記3つの偏光状態を備えた上記光線を入射させ、偏光計10で、各波長毎の上記3つの偏光状態毎の上記光ネットワークの作用によって生成された偏光状態を測定し、上記偏光計によって測定された偏光状態から偏光モード分散を計算する。

Claim (excerpt)：

光ネットワークの偏光モード分散判定装置において、少なくとも2つの波長毎に、3つの偏光状態を光線に順次生成し、上記光ネットワークに各波長で上記3つの偏光状態を備えた上記光線を入射させる偏光光源手段と、上記光ネットワークによって伝送され、および光装置から反射された各波長での上記光線の3つの偏光状態のそれぞれの部分に反応し、各波長毎の上記3つの偏光状態毎の上記光装置の作用によって生成された偏光状態を測定する偏光計と、上記偏光計によって測定された偏光状態から偏光モード分散を計算する手段と、からなることを特徴とする光ネットワークの偏光モード分散判定装置。

IPC (2)：

G01M 11/02 ,  G01J 4/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開昭51-139987