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J-GLOBAL ID：200903029338291470
システムコントローラを用いた分析装置ユニット
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993346633
Publication number (International publication number)：1995181187
Application date： Dec. 22, 1993
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：
【要約】【構成】 測定手段10の各機器ごとに設けられ、その機器自身の識別データが入力記憶される識別データメモリ手段38と、各識別データメモリ手段38内の識別データをチェックするシステムチェック手段28と、各識別データメモリ手段38とシステムチェック手段28とを接続し、該識別データをシステムチェック手段28に送出する装置間通信手段14と、データ処理手段32からの分析データと共に、システムチェック手段28に送出された識別データが該分析データに自動的に付加されて入力される分析データ管理手段34と、分析データ管理手段34内のデータが出力されるデータ出力手段36と、を備えたことを特徴とする分析装置ユニット。【効果】 分析データと合せて測定に使用した各機器を特定する識別データの管理が簡略かつ正確に行うことが可能となる。
Claim (excerpt)：
試料の分離測定を行うための複数の機器を有する測定手段と、該各機器に接続され、それぞれの機器における測定条件の設定を統括的に制御するシステム制御手段と、該測定手段から得られた測定結果を処理分析するデータ処理手段と、を有する分析装置ユニットにおいて、前記測定手段の各機器ごとに設けられ、その機器自身の識別データが入力記憶される識別データメモリ手段と、前記各識別データメモリ手段内の識別データをチェックするシステムチェック手段と、前記各識別データメモリ手段とシステムチェック手段とを接続し、該各識別データメモリ手段内の識別データをシステムチェック手段に送出する装置間通信手段と、前記データ処理手段からの分析データと共に、前記システムチェック手段に送出された識別データが該分析データに自動的に付加されて入力される分析データ管理手段と、前記分析データ管理手段内のデータが出力されるデータ出力手段と、を備えたことを特徴とする分析装置ユニット。
IPC (3)：
G01N 35/00
, G01N 30/78
, G01N 30/86
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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