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J-GLOBAL ID：200903029380782646
シール剤塗布検査方法及びその装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 博光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996332482
Publication number (International publication number)：1998170242
Application date： Dec. 12, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：
【要約】【課題】 シール剤の塗布状態を短時間で、しかも被検査部材の種類に関係なく精度の高い検査ができ、設置面積が小さくて済むシール剤塗布検査装置を提供することである。【解決手段】 液晶パネル30の斜め上方位置には、光源20A、20B、20C、20Dが液晶パネル30の周囲に配置されている。この光源20からの光りは、光源調整部21で照射角度、照射強度、照射幅等を調節され、シール剤40塗布部を均一輝度分布となるよう照射される。撮像カメラ10は全塗布部を撮影するよう調整配置されている。
Claim (excerpt)：
シール剤の塗布状態を検査するシール剤塗布検査方法において、前記シール剤の塗布領域全体に照射角度、照射強度、照射幅を調整した光を照射し、該光の反射状態を一度に検知することで、前記シール剤の塗布状態の検査を行うシール剤塗布検査方法。
IPC (2)：
G01B 11/24
, B05C 5/00 101
G01B 11/24 K
, B05C 5/00 101
